對于亞微米以上的顆粒粒度測量，有許多表征方法：包括篩分、光學顯微鏡、沉積、激光衍射、電子和光學計數器。每種技術都有其優點和缺點：計數方法有著很高分辨率，但不能與顯微鏡載玻片上的氣載顆?；蝾w粒一同使用；激光衍射法儀器測量速度很快，簡單易用，重復性也不錯，但是測量分辨率較低；基于離心/沉降方法的儀器具有良好的分辨率和準確性，但測量時間長且操作較繁瑣；顯微鏡測量可以獲得有關形狀的重要信息，但測量相對較慢，特別是對于寬分布，需要大量取樣速度就更慢了。篩分方法非常便宜，但測量分辨率過低，并且需要使用技巧和長期維護。

這幾年隨著相關技術的成熟，基于時間變換的激光光阻技術（TOT）提供了令人興奮的優點：

• 測量是在單個粒子上進行的，因此分辨率相對較高；

• 與區域計數器不同，尺寸不是由脈沖高度決定的，而是由脈沖寬度決定，因此，測量系統無需校準。

• 最重要的是測量結果不依賴與被測樣品的物理/光學性質。

LOT 激光光阻法的基本原理：

圖1是基本的光路結構。波長λ=632.8nm經準直的氦氖激光束通過楔形棱鏡（WP），該楔形棱鏡使光束偏離光軸，偏轉角為θd，WP以角頻率m=2πυ旋轉。透鏡（LA）使用焦距為F的透鏡將光束聚焦為1.2mm的光斑尺寸（按照1/e2光強），旋轉聚焦的偏轉光束形成了空間直徑為D的圓，為了簡單起見 ，目前假定D >> dp（dp是顆粒直徑）。 顆粒以各種方式呈現在光束中：流動或攪拌的液體中; 在光柵掃描的顯微鏡載玻片上;在流動的空氣中; 或者干脆沉淀在空氣或液體中。光電二極管垂直于光軸放置在顆粒后面。

在光束穿過粒子的過程中，光電二極管上的信號較低。理想情況如圖2所示。通過測量脈沖寬度并乘以切向速度（VT=ωF tanθd），可以得到光束在粒子上行進的距離。 這個距離與粒度相等，實際上， LOT技術是從原始數據計算粒度最簡單的方法之一。

  盡管顆粒的折光指數與吸收會對信號波形有影響，但是與信號寬度無關。因此LOT方法是真正的絕對法測量，無需折光/吸光等物理或光學參數 

   可以對混合樣品進行精確測定。

    當掃描顆粒非直徑區域時，對脈沖的影響為：

        - 由于微粒邊沿是沿弦方向而非直徑傾斜，所以脈沖邊緣的陡峭度較小 

        - 脈沖振幅較小，因為激光光斑可能不會完全被粒子遮擋，而在其邊緣處穿過。

圖像法：

    不是所有顆粒都是能夠使用球型模型等效其粒徑的：纖維、棒狀、非規則形狀 -Feret直徑、形狀因子與長寬比

對于纖維樣品的表征：LOT+圖像法